基于数字图像处理技术的电子元器件外观缺陷检测研究

现代电子元器件的制造与应用广泛,外观缺陷可能会影响其性能和可靠性。传统工艺中,人工视觉检查是一种常见的缺陷检测方法,但其存在主观性高、效率低等问题。因此,应用数字图像处理技术进行自动化外观缺陷检测,具有重要的研究价值和实际应用前景。本研究针对电子元器件外观缺陷的特点,提出了一种基于数字图像处理技术的缺陷检测方法,并设计了相应的检测流程。实验结果表明,该方法能够有效地检测出电子元器件的外观缺陷,并具备较高的准确性和效率。