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SiC高温退火表面保护薄膜制备的研究

Preparation of SiC Surface Protective Film Annealed at High Temperature
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摘要 采用光刻胶涂覆、PVD、PECVD和RIE方法制备的类金刚石(DLC)薄膜覆盖于SiC晶片表面,作为SiC离子注入后高温激活退火的保护层,高温退火后晶片表面均无明显形貌退化,从薄膜应力、厚度、产能及成本等方面对4种方法进行了对比和分析。 Diamond-like carbon(DLC)films prepared by photoresist coating,PVD,PECVD and RIE cover the surface of SiC wafer as the protective layer for high-temperature activation annealing after SiC ion implantation.There is no obvious morphological degradation on all the wafer surfaces after high-temperature annealing.The four methods are compared and analyzed from the aspects of film stress,thickness,productivity and cost.
作者 刘相伍 李波 陟金华 朱江涛 LIU Xiangwu;LI Bo;ZHI Jinhua;ZHU Jiangtao(Beijing Advanced Semiconductor Innovation Co.,Ltd.,Beijing 101318,China)
出处 《电子工业专用设备》 2024年第3期9-12,共4页 Equipment for Electronic Products Manufacturing
关键词 碳化硅 类金刚石 高温退火 SiC(Silicon carbide) DLC(Diamond-like carbon) High temperature anneal
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二级参考文献47

  • 1范玉殿,周志烽.薄膜内应力的起源[J].材料科学与工程,1996,14(1):5-12. 被引量:16
  • 2J H Zhao,et al.IEEE Elect.Device Lett[J].2003,24(6):402.
  • 3R Singh,et al.IEEE Trans. on Electron Devices[J].2002,49(4) : 665.
  • 4Birk Heinze,et al.in Proc. of 20th ISPSD[C].2008:245.
  • 5S Ryu et al,IEEE Electron. Device Lett[J].2004,25(8) :556.
  • 6M K Das,et alan Proc. of 20th ISPSD[C].2008:253.
  • 7M K Das, et al.in Mater. Sci. Forum[C].2009,1183 : 600-603.
  • 8Q Zhang, et al.in Mater. Sci. Forum[C].2009,1187 : 600-603.
  • 9朱昌,邵霄,梁海锋.降低DLC薄膜应力的方法研究[J].西安工业大学学报,2007,27(5):416-420. 被引量:3
  • 10Kim Sang-Cheol, Bahng Wook, Kang In-Ho, et al, Fabrication Char- acteristics of 1.2 kV SiC JBS Diode PROC. C 26th lnternation Con- ference on Microeleetronics ( MIEL 2008 ), NI, SERBIA, I I - 14 MAY ,2008 : 181 - 184.

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