半导体器件盐雾腐蚀试验方法及标准分析

Analysis of salt spray corrosion test methods and standards for semiconductor devices

本文介绍了盐雾试验的类型,并通过对GB、GJB、ISO、IEC等国内外相关标准中涉及半导体器件的中性盐雾试验、酸性盐雾试验、交变盐雾试验的试验条件及方法进行标准比对分析,得出了针对民用、车用及军用半导体器件所适用的不同盐雾试验方法及其失效判定的差异,并给出了盐雾试验标准的制修订建议。