基于X光图像的继电器簧片间距检测方法

针对磁保持继电器中的簧片在经过高强度测试后会发生形变,而形变量的检测较为困难的问题。提出了一种针对簧片X光片图像的处理方法。首先对X光片图像进行灰度提取,以减少图像的数据处理量;再通过图像模式匹配精准定位,以截取出目标簧片所在位置的图像区域;最后通过轮廓提取,获取到较为精准的簧片轮廓曲线,此曲线中包含有簧片轮廓的像素点坐标信息,直接计算两曲线的像素点坐标距离,就可得到两簧片间的最短距离,即所要检测的簧片形变量。经过实验验证,此方法可以准确而高效地完成对簧片形变量的检测。