PCIE的一种测试方法研究

集成电路具有体积小、重量轻、寿命长和可靠性高等优点,同时成本也相对低廉,便于大规模生产,在电性能方面远远优于晶体管元件组成的电路。从第一款集成电路被研发再应用到生活中开始,在短短几十年的发展过程中,被广泛应用于军事、工业、通信和遥控等多个领域,这也标志着世界进入集成电路时代。目前集成电路的规模越来越大,集成的功能也越来越多,速度也越来越快。针对PCIE类型电路,基于ATE和测试仪器,对电路内部的DFT可测性进行系统的硬件设计和方法研究。