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基于MCU的ICT控制系统设计

Design of ICT Control System Based on MCU
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摘要 ICT测试广泛应用于各种电子产品的生产中,随着电子产品的小型化和智能化发展,对ICT测试的要求也越来越高。完成了ICT测试中的电阻测试电路设计、电容测试系统的电路设计、TVS测试系统的电路设计,以及找点功能相关的系统设计。介绍了上述相关的ICT测试功能模块实现原理。 ICT testing is widely used in the production of various electronic products.With the development of miniaturization and intelligence of electronic products,the requirements for ICT testing are also increasing.The design of resistance testing circuit,capacitance testing system circuit,TVS testing system circuit,and system design related to point finding function in ICT testing is achieved.The implementation principle of the above related ICT test function modules is introduced.
作者 楚文超 CHU Wenchao(Suzhou Lingdong Jiaxin Technology Co.,Ltd.,Suzhou 215000,China)
出处 《电子工艺技术》 2024年第6期54-56,共3页 Electronics Process Technology
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