X射线荧光光谱技术在片岩化学成分研究中的应用

X射线荧光光谱全岩化学成分分析技术在火山熔岩分类命名中成效显著,但在变质岩命名中运用不多。为探索该技术在变质岩分析中的适用性,对39件区域变质岩片岩样品进行了深入剖析。在实验中,精确设定了元素的测量条件,构建了硅酸盐系列曲线方程参数,并利用熔片法获取了详尽的化学成分数据。分析发现,片岩中长英质矿物含量与其挥发系数呈负相关,同时(Na_(2)O+K_(2)O)含量及δ值也随长英质矿物含量的减少而下降。上述分析为片岩的地学研究提供了关键依据。然而,将岩石薄片鉴定结果与化学成分数据进行对比时发现,虽然化学成分分析能提供重要参考,但在片岩分类命名中仅起辅助作用。这是由于变质岩的复杂形成过程及其化学成分受多种因素影响所致。因此,在变质岩研究中,建议结合多种技术手段进行综合分析。尽管X射线荧光光谱全岩化学成分分析技术为变质岩研究提供了新的视角,但在实际应用中仍需与其他方法相结合,以确保分析结果的准确性和可靠性。