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基于DBF阵列天线的近场方向图测试技术研究

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摘要 基于阵列天线的DBF技术,其DBF形成效果很大程度上取决于天线方向图合成系数。本文基于Hollywave公司的近场方向图测试平台,针对某阵列天线形成多种DBF波束复杂应用场景,完成某阵列天线近场方向图测试系统构建,并在工程实践中取得良好的测试结果。
出处 《电子制作》 2024年第23期80-83,共4页 Practical Electronics
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