下颌骨升支矢状劈开截骨后下齿槽神经损伤的随访观察
摘要
为探讨双侧下颌骨升支矢状劈开截骨后下齿槽神经(IAN)暂时和永久性损伤的发生率和感觉恢复的时间,选择14例双侧下颌骨升支矢状劈开截骨的病例,在术前和术后1周、1个月、3个月、6个月和1年.采用针刺检测、两点分辨、直流感应电测法,确定 IAN 损伤的发生率和感觉恢复的时间。结果显示 IAN 暂时性损伤发生率为78%,永久性损伤为7%;暂时性损伤后需6～12个月感觉完全恢复。
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