美军2000年环境应力筛选试验要求

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摘要 1986年1月,美国海、陆、空三军分别制订了2000年电子产品可靠性发展规划,要求新一代的电子设备的MTBF比老产品要提高1倍(即从1986年的平均1000小时提高到2000小时),MTTR平均降低一半(即从1986年的30分钟降低到15分钟),要求各类元器件的不良品率从1986年的1000PPm下降到100PPm.同时提出海、陆。

作者曾纪科

机构地区机电部五所

出处《环境条件与试验》 1989年第3期27-28,共2页

关键词环境应力试验电子产品可靠性

分类号 TN06 [电子电信—物理电子学]

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1魏铭炎.国外电子产品环境应力筛选概述[J].国外科技,1992(9):7-8.
2凯姆.L王,胡逍.电子产品环境应力筛选的一种新理论[J].电子产品可靠性与环境试验,1993(6):53-56.
3郑鹏洲,齐.环境应力筛选[J].电子产品可靠性与环境试验,1990(6):60-62.
4陆建军.环境应力筛选对船舶的作用和影响[J].中国科技博览,2015,0(43):303-303.
5任全发.环境应力筛选方法的推广应用[J].火控雷达技术,1990(3):30-33.
6房建新.环境应力筛选的理论与实践[J].电讯工程,2000(2):44-48.
7林彬.环境应力筛选有关问题的探讨[J].电子产品可靠性与环境试验,2000,18(5):35-37. 被引量：3
8蒋金泉.环境应力筛选(ESS)实践[J].电子产品可靠性与环境试验,1997,15(4):43-46.
9任全发.论环境应力筛选方法的推广应用[J].环境条件与试验,1990(5):23-25.
10魏健.用环境应力筛选试验研究SMT焊点可靠性[J].电子工艺技术,2000,21(1):13-16. 被引量：2

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