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亚波长正弦介质光栅椭偏特性的研究

Study of Elliptically Polarized Character of Sinusoidal Dielectric Subwavelength Gratings
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摘要 作者使用椭偏理论并结合扩展边界条件法 ,得出亚波长正弦介质光栅的椭偏参数 .分析了两个椭偏参数的特性 。 The authors determine elliptically polarized parameter of sinusoidal dielectric subwavelength gratings with ellipsometry theory and extended boundary condition method. The authors analyze some characters of two elliptically polarized parameters and discuss certain practical uses about the properties.
出处 《四川大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2002年第5期883-888,共6页 Journal of Sichuan University(Natural Science Edition)
关键词 亚波长正弦介质光栅 椭偏特性 椭偏参数 扩展边界条件法 椭偏测量 本征偏振态 elliptically polarized parameter extended boundary condition method sinusoidal dielectric subwavelength gratings
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