摘要
作者使用椭偏理论并结合扩展边界条件法 ,得出亚波长正弦介质光栅的椭偏参数 .分析了两个椭偏参数的特性 。
The authors determine elliptically polarized parameter of sinusoidal dielectric subwavelength gratings with ellipsometry theory and extended boundary condition method. The authors analyze some characters of two elliptically polarized parameters and discuss certain practical uses about the properties.
出处
《四川大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第5期883-888,共6页
Journal of Sichuan University(Natural Science Edition)