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SSM:x-view密度分析法

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摘要 瑞士Schrer Schweiter Mettler(SSM)公司在2013上海纺织工业展览会上介绍了x-view密度分析法,这一最新方法可进一步提升SSM公司的络筒工艺。密度分析法的第一部分是利用电子扫描器(XRCT)完成的。X光从不同方向扫描筒子纱,记录数据,由电脑模拟成三维图像。
作者 宫海飞
出处 《国际纺织导报》 2016年第6期38-38,共1页 Melliand China
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