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离子聚集、迁移导致LCD器件显示不良之分析
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摘要
探讨LCD制程中离子的来源,影像残留、显示黑影白影的根本原因,并以现有的LCD生产设备和制作工艺为基础,研究如何通过优化材料设计以及寻找合适驱动条件来尽量避免显示Mura不良的发生。
作者
金小莉
袁景辉
机构地区
汕头超声显示器有限公司
出处
《轻工科技》
2015年第7期78-79,共2页
Light Industry Science and Technology
关键词
离子
影像残留
显示Mura
PI配向
驱动
分类号
TN873 [电子电信—信息与通信工程]
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轻工科技
2015年 第7期
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