光纤微弯损耗机理试验

光纤的微弯是光缆制造中应重视的一种损耗机理。在成缆过程中,按规范的要求,光纤的传输性能不变,但实际上有时会使性能下降。目前还没有办法判明光纤的这种性能。为此就该问题和判明表示微弯性能的参数进行论述,并对一种重复性好、有代表性的新颖微弯试验进行了研究,提出了可预测光纤性能的模型。