微波,毫米波行波管阴极性能失效机理分析
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1992年第1期58-63,共6页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
-
1孙旭松.电子元器件的失效机理分析[J].仪表技术,2012(5):49-50. 被引量：3
-
2张红卫,丁耀根,白振纲.用于阴极性能测试的新型阳极制冷方式研究和设计[J].电子器件,2003,26(4):361-364. 被引量：1
-
3沈子信.6kw低阶模CWCO_2激光器失效机理分析[J].光电子．激光,1993,4(4):244-248.
-
4刘睿.一种环状钡钨阴极发射体制造新方法[J].真空电子技术,2010,23(5):48-50.
-
5于炼克.节能灯功率管失效机理分析[J].电子元器件应用,2002,4(10):17-19.
-
6杨少华,吴福根,张春华.白光LED的失效机理分析[J].半导体光电,2009,30(6):857-859. 被引量：6
-
7李少平.显像管管座失效机理分析[J].电子产品可靠性与环境试验,2005,23(6):29-31. 被引量：1
-
8张立娟.电子枪设计制造工艺与阴极性能分析[J].真空电子技术,2011,24(4):103-105.
-
9王恩光,梁俊文.NTCR式温度传感器失效机理分析[J].上海微电子技术和应用,1998(1):17-20.
-
10任鸿秋.存储测试系统的可靠性分析[J].火力与指挥控制,2008,33(4):146-148. 被引量：3
;
