功率晶体管热阻测量方法的研究
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1992年第3期47-50,共4页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
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1半导体二极管[J].电子科技文摘,2003,0(7):21-21.
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2宋国华,缪建文,方靖淮,范利平,李炳华.基于热敏电阻的发光二极管热阻测量[J].半导体光电,2007,28(5):634-637. 被引量：8
-
3宋国华,缪建文,李雅莉,李炳华.热敏电阻在发光二极管热阻测量中的应用[J].电子器件,2007,30(4):1518-1520.
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4李炳乾,布良基,范广涵.功率型LED热阻测量的新方法[J].半导体光电,2003,24(1):22-24. 被引量：39
-
5奉琴,李世平,陈彦,万超群,李义.基于结构函数的大功率IGBT热阻测量方法[J].大功率变流技术,2015(3):39-41. 被引量：6
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6辛国锋,沈力,皮浩洋,瞿荣辉,蔡海文,方祖捷,陈高庭.高功率半导体激光器热阻测量的实验研究[J].激光与光电子学进展,2010,47(11):119-123. 被引量：2
-
7苏美开,倪国强,左眆.频率红移法用于激光二极管热阻测量[J].光电工程,2007,34(5):48-51. 被引量：5
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8陈国龙,朱丽虹,郭自泉,张纪红,吕毅军,高玉琳,陈忠.外部电压源法测试大电压LED器件/模块热阻[J].实验技术与管理,2013,30(7):29-32. 被引量：1
-
9李建军,许振富,刘凤莉.提高晶闸管模块焊接层质量的实验研究[J].齐齐哈尔大学学报（自然科学版）,2001,17(2):79-81. 被引量：3
-
10黄月强,吕长志,谢雪松,张小玲.一种IGBT热阻的测量方法[J].电力电子技术,2010,44(9):104-105. 被引量：11
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