期刊文献+

改进设计可靠性:电子组件加速试验的贝叶斯分析

下载PDF
导出
作者 Hart,L 卫兆兴
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 1992年第3期55-60,共6页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部