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产品的薄弱环及失效曲线
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作者
陈昭宪
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1992年第5期66-68,65,共4页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词
可靠性
薄弱环
失效曲线
分类号
TN06 [电子电信—物理电子学]
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1
袁晨,严伟.
共振隧穿现象与LED失效模型的分析方法[J]
.北京大学学报(自然科学版),2011,47(6):1151-1154.
被引量:2
电子产品可靠性与环境试验
1992年 第5期
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