摘要
采用离子注入、离子淀积及后期退火方法制各了稀磁半导体单晶MnxGa1-xSb,在室温下(300 K)获得了单晶的磁滞回线.用X射线衍射方法分析了铁磁性半导体单晶MnxGa1-xSb的结构,用电化学C-V法分析了单晶的载流子浓度分布.由X射线衍射得知,MnxGa1-xSb中Mn含量逐渐由近表面处的x=0.09下降到晶片内部的x=0.电化学C-V测得单晶的空穴浓度高达1×1021cm-3,表明MnxGa1-xSb单晶中大部分Mn原子占据Ga位,起受主作用.
出处
《科学通报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第24期1863-1864,共2页
Chinese Science Bulletin
基金
国家自然科学基金(批准号:60176001)
国家重大基础研究计划(批准号:G20000683,G20000365)资助项目.