第七讲 自动光圈控制和自动曝光控制

一、自动聚焦状态检测在自动聚焦控制原理和工作电路分析的基础上,我们对内检测方式的自动聚焦状态检测进行分析。内检测方式目前普遍采用新TTL方式,该方式通过检测摄取信号的高频分量来进行聚焦移位。为实现快速而又正确地控制聚焦镜的移位,除了利用压电元件使CCD摄像器件作微小移动来检测信号高频分量的变化极性之外,还需将变聚镜位置以及光圈位置信息,馈送到聚焦控制微机。这两者的位置与被摄物的景深密切相关,会影响被摄信号高频分量的变化。它们与聚焦镜位置信息一样,对聚焦控制微机的状态判断同等重要。