电子元件生产中寿命试验的Bayes方法
-
1丁贝.基于Bayes方法的雷达系统可靠性评估[J].机械管理开发,2013,28(3):77-78. 被引量:3
-
2曾献军,王壮,胡卫东.雷达情报特征的Bayes识别方法[J].火力与指挥控制,2003,28(6):73-77. 被引量:3
-
3王伟,邵淑伟.MPM用小型化宽带行波管可靠性的Bayes方法估计[J].真空电子技术,2017,30(1):18-21.
-
4朱荣兴.特细金丝生产及其表面质量控制[J].集成电路应用,2005,22(3):69-73.
-
5阿尔若维根斯研发出RFID天线纸基纤维PowerCoat[J].中国防伪报道,2013(5):79-79.
-
6汪连栋,申绪润,王国玉.雷达作用距离Bayes先验分布的确定方法[J].飞航导弹,2002(10):44-46.
-
7方加星.电子元件生产用的隧道窑耐火材料系统[J].国外耐火材料,1996,21(4):62-63.
-
8王培清,卢建平,陈永麒.无显影气相光刻在大功率晶闸管元件生产中的应用[J].电力电子技术,1995,29(2):68-70.
-
9蔡连科.电子元件专用精密粉末压片机的开发目标[J].电子工艺简讯,1995(4):7-8.
-
10信息时代:电子元件也要“多元化”[J].技术与市场,2012,19(4):299-299.
;