多重抽样方案的概率计算
出处
《电子质量》
1992年第2期32-34,共3页
Electronics Quality
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1毛瑞石.贴片元器件(SMD)的抽样检测方法研究[J].科技广场,2012(2):80-82.
-
2于宁,万江文,马万兴.无线传感器网络三维抽样定位[J].北京邮电大学学报,2008,31(3):13-18. 被引量：10
-
3田松,周玉芬,高锡俊.测试性验证中正态分布法改进[J].电子测量技术,1999,22(3):13-15. 被引量：1
-
4徐立生,刘世华,乔金玉.国外军用半导体器件的筛选、检测实例[J].半导体技术,1994,10(6):42-44.
-
5丁国庆,赵先明.光通信用高速光电子器件和光模块质量考核试验问题研究[J].光通信技术,2004,28(2):4-8.
-
6史文香,吕培青.C=0抽样方案在石英谐振器产品检验中的应用[J].电子设计工程,2014,22(6):96-98. 被引量：2
-
7杜军,高厚琴.宽屏电视与普通电视兼容显示的探讨[J].中国传媒大学学报（自然科学版）,1997,8(1):42-48.
-
8张园园,付雷,楚东旭,曹俊英,饶学勤.计数抽样在多晶硅外观质量检验中的应用[J].现代测量与实验室管理,2015,23(5):43-45 12. 被引量：1
-
9秦国林,许斌,罗俊.集成电路标准规范中的LTPD抽样浅析[J].微电子学,2012,42(3):445-448. 被引量：1
-
10任雪峰.T/R组件抽样检验方案研究[J].雷达与对抗,2016,36(4):19-21. 被引量：2
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