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A New silicon—on—Insulator Structure of Metal—Oxide—Semiconductor Field Effect Transistor to Reduce Self—Heating Effect

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出处 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2003年第1期158-163,共6页 中国物理快报(英文版)
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参考文献6

  • 1Collinge J P 1991 Silicon-on-Insulator Technology: Materials to VLSI (New York: Kluwer).
  • 2Charles H et al 1994 IEEE Trans. Electron Devices 41 675.
  • 3Apanovich Yet al 1993 IEEE Trans. Electron Devices 40 2094.
  • 4Douglas D A and Krishna S 1995 IEEE Trans. Electron on Devices 42 489.
  • 5Su L T et al 1994 IEEE Electron Device Lett. 15 374.
  • 6Hiroshi I, Jun N and Takao Y 2001 Proc. Electrochem. Soc.(Washington D.C., USA, March 2001) p 27.

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