摘要
简述了片上系统的基本概念,分析了目前片上系统测试技术所面临的问题。对即将成为主流测试方法的内建自测试技术(BIST)进行了详尽地论述,并提出了两种新的BIST综合测试技术。
This paper first introduces the basic conception of SoC.Then, the difficulty of thetesting of SoC and the new trend of BIST is analyzed .At last two new technologies of BIST to solvethe testing problems are brought forward.
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第2期13-16,共4页
Semiconductor Technology
关键词
测试技术
内建自测试
系统芯片
可测性检测
built in self test( BIST)
system on chip(SoC)
design feasible test(DFT)
