期刊文献+

微波介质特性高温测量方法研究 被引量:4

Study on High Temperature Measurement of Microwave Dielectric Properties
下载PDF
导出
摘要 简要介绍了目前温度高达1000℃以上的介质材料复介电常数测量技术的发展现状,分析了高温介质材料复介电常数测量中的关键技术,给出了多种材料复介电常数随温度变化的曲线. The development of the high temperature (>1000℃)dielectric measurement techniques are introduced briefly. The key technique needed in high temperature dielectric measurement is analyzed and many useful results of various materials are provided. 
出处 《四川大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2003年第1期54-58,共5页 Journal of Sichuan University(Natural Science Edition)
关键词 高温测量方法 复介电常数 谐振法 开路同轴线法 高温材料 微波烧结 microwave complex dielectric constant high temperature measurement
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献3

  • 1张兆镗,1990年
  • 2田永赉,中国电子学会第四届微波应用学术会议论文集,1989年
  • 3钱鸿森,微波加热技术及应用,1985年

共引文献24

同被引文献22

  • 1张葆青.石英玻璃的基本特性及石英管的正确使用方法[J].电力电子技术,1994,28(4):58-61. 被引量:5
  • 2熊长新,李钱陶.光学玻璃的强度设计方法研究[J].光学与光电技术,2006,4(5):115-118. 被引量:9
  • 3Ari M, Binner J G P, Cross T E. Comparison of Tech- niques for measurement High temperature microwave com- plex permittivitu: Measurements on an Alumina/Zircona system[J]. Journal of microwave power and electromag- netic energy ,1996, 31 ( 1 ) :12 - 18.
  • 4Measurement Dielectric constant with the HP 8510 Net- work Analyzer -The Measurement of both Permittivity and Permeability of Solid Materials [ A ]. Product Note 8510 - 3, Hewlett - Packard Aug, 1986:3 - 7.
  • 5Nicolson A M,Ross G. Measurement of intrinsic proper- ties of materials by time domain techniques [ J ]. IEEE Trans. On Instrument & Measurement, 1970, 11 - 19 - 4:377 - 382.
  • 6Jing Shenhui, Jiang Quanxing. Coaxial line for material characterization using improved transmission/reflection method [ J ]. RF measurement techniques for material characterization. 2005,36 : 1 985 - 1 990.
  • 7科埃略 R,阿拉德尼兹 B 著.电介质材料及其介电性能.张冶文,陈玲译.北京:科学出版社,2000.
  • 8BOttcher C J F,Bordewijk P.Theory of Electric Polari-Zation.New York:Elesevier Scientific Publishing Company,1978.
  • 9Frenkel,Smit.分子模拟-从算法到应用.汪文川等译.北京:化学工业出版社,2002.
  • 10Hans C Andersen.Molecular dynamics simulations at constant pressure and/or temperature.J.Chem.Phys.,1980,72(4):2384~2393.

引证文献4

二级引证文献5

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部