浮栅非易失性存储器中低温数据保持的可靠性方法
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2003年第1期68-68,共1页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
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1浮栅非易失存储器中低温数据保持的编程／擦除循环加速统计模型[J].电子产品可靠性与环境试验,2003(3):76-76.
-
2朱鹏林,钱清泉.DWY－3A远动系统可靠性分析[J].西南交通大学学报,1994,29(2):136-143.
-
3张爱国.计算机网络可靠性方法探讨[J].现代工业经济和信息化,2015,5(22):86-87.
-
4刘青超.优化计算机网络可靠性的方法探讨[J].计算机光盘软件与应用,2013,16(23):127-127. 被引量：9
-
5杨飞.提高计算机网络可靠性的方法分析[J].电子制作,2013,21(15):142-142. 被引量：4
-
6张伟宏.计算机网络可靠性方法研究与探讨[J].信息通信,2015,28(4):164-164. 被引量：1
-
7张兴会.提高计算机键操作可靠性方法[J].微计算机信息,1996,12(5):57-58.
-
8黄琪.提高计算机网络可靠性的方法研究[J].电脑编程技巧与维护,2017(7):86-87. 被引量：3
-
9Fowler Nordheim隧道应力与沟道热电子应力对浮栅非易失性存储器数据保持特性的影响[J].电子产品可靠性与环境试验,2003(6):71-71.
-
10王周琴,高岳.提高计算机网络可靠性的方法研究[J].科技致富向导,2014,0(30):149-149. 被引量：1
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