经不同温度烧结后二硅酸锂陶瓷的晶相和分子构象改变

目的:探讨二硅酸锂玻璃陶瓷在不同温度条件下的晶相和分子构象变化。方法:分别在780℃、800℃、840℃和880℃下对二硅酸锂玻璃陶瓷完成烧结,采用X射线衍射仪(Xrd)和傅里叶变换红外光谱仪(fTir)观察陶瓷的晶相和分子构象变化。结果:一定温度范围内陶瓷中的亚硅酸锂可基本转变成二硅酸锂,其分子构象趋于同质化,而高温可破坏该平衡。结论:过高或过低温度烧结均不利于陶瓷晶相和分子结构的稳定,Xrd和fTir对其微观变化的检测较为灵敏。