期刊文献+

北京正负电子对撞机同步辐射X射线光刻光束线的光学特性

The Optical Characters of Synchrotron Radiation X-ray Lithography Beamline at BEPC
下载PDF
导出
摘要 分析了光刻光束线中影响光刻面光强均匀性及有效工作波段的主要因素,并提出了改善光刻面照明质量的方法。最后给出了相应的实验结果。 The uniformity of the light intensity on the lithography plane and the effective spectral range for the designs of the lithography beamline are the important optical features.This paper analysed the main factor which influences the two features above,and put forwarded to improve the methods of illumination on the lithography plane,and finally presented the experimental results correspordingly.
出处 《光学机械》 EI CAS CSCD 1992年第3期1-8,共8页
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部