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SoC测试的发展趋势及挑战——安捷伦科技93000 SoC测试系统的解决方案 被引量:8

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作者 杨广宇
机构地区 安捷伦科技
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第3期48-50,共3页 Semiconductor Technology
  • 相关文献

同被引文献31

  • 1谈颖莉,戎蒙恬.SOC芯片设计与测试[J].半导体技术,2004,29(6):64-67. 被引量:4
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  • 10The Fundamentals of Digital Semiconductor Testing. Soft Test Inc. Version 2.03- September, 1999.

引证文献8

二级引证文献38

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