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晶片传输系统中切边探测和预对准技术 被引量:8

The OF Detection and the OF Prealignment Technology Of Wafer Loader System
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摘要 介绍投影光刻机设备的晶片传输系统中切边探测和晶片预对准技术。 Mostly introduction the OF detection and the OF prealignment technology of the Wafer Loader system in the Projection-Lithography equipment.
作者 杨兴平
出处 《电子工业专用设备》 2003年第1期43-47,共5页 Equipment for Electronic Products Manufacturing
关键词 投影光刻 晶片传输 切边 机械预对准 光学预对准 半导体 Projection Lithography Wafer loader Orientation flat (OF) Detection Machine prealignment Optical prealignment
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