一种1/f噪声模型的分析方法

低频模拟电路中的1/f噪声是分析故障的典型代表。1/f过程是一种常见的非平稳的随机过程。上世纪人们的研究中发现,电子器件的可靠与否直接受器件的1/f噪声的大小的影响,可靠性比较高的器件通常需要电路或者器件的1/f噪声小一些,这样使用的寿命也可以增长,抗环境干扰能力也比较好。文章在对1/f过程的研究理解中,提出了利用零均值白噪声作为小波基合成1/f过程的方法。由于1/f信号属于分析信号的一种,所以运用分形分析方法检测其合成效果。