期刊文献+

半导体分立器件制造工艺的可靠性研究

下载PDF
导出
摘要 随着我国国民经济实力的增长,科学技术水平的提高,在大好的外部环境带动下,半导体研发、生产、制造等技术也随之得到良好的发展机会。在半导体生产制造领域不断涌现出新工艺、新技术、新器件的突破成果,呈现出快速发展的良好势头。在快速发展的现象背后必然伴随着新的技术挑战,笔者就半导体分离器件的制造工艺进行了深入研究,对工艺的可靠性加以分析,指出生产过程中影响半导体分立器可靠性的关键工艺步骤,同时提出了可以有效提高半导体分离器可靠性的相关措施,希望对我国半导体事业的发展起到积极作用。
作者 陈艳明
出处 《科技传播》 2016年第1期41-,68,共2页 Public Communication of Science & Technology
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献22

  • 1董均海.电子元器件失效分析技术[J].现代情报,2006,26(4):207-208. 被引量:10
  • 2周秀清,刘兆黎.电子产品的可靠性设计探讨[J].石油仪器,2006,20(3):18-21. 被引量:9
  • 3FANTINI F. Reliability problems with VLSI [J]. Mieroelee Reliab, 1984, 24(2).. 275-296.
  • 4JEP122G. Failure mechanisms and models for semiconductor devices[S].
  • 5OHRING M. Reliability and failure of electronic materials and devices [M]. San Diego: Academic Press, 1998.
  • 6徐世六.模拟/数字混合信号电路技术发展动态[J].微电子学,2008,38(1):26-33.
  • 7HU C. IC reliability simulation [J]. IEEE J Sol Sta Circ, 1992, 27(3): 241-246.
  • 8TU R H, ROSENBAUM E, CHAN W Y, et al. Berkeley reliability tools-BERT [J]. IEEE Trans Comp Aid Des Integr Circ Syst, 1993, 12(10) : 1524-1534.
  • 9LI X J. Deep submicron CMOS VLSI circuit reliability modeling simulation and design [ D]. Maryland: University of Maryland, 2005.
  • 10JP-O01. Foundry process qualification guidelines[S].

共引文献16

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部