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机床指示与测量系统技术综述

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摘要 利用VEN数据库,以筛选得出的数控机床指示与测量系统专利文献为基础,从申请量,申请人,关键技术等方面进行统计分析,并举典型专利对具体技术分支进行阐述。
作者 杨晓
出处 《科技风》 2019年第14期154-154,共1页
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