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嵌入式器件的测试技术研究

Test Technology Research of the Embedded Chips
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摘要 主要介绍了以 80 C31为核 。 This paper simply introduces the test methods and technology on the programmable communication interface chips cored in 80C31 Simply Component 8 bit Microcomputer.
作者 吉国凡 冯蕊
出处 《微处理机》 2003年第2期16-18,共3页 Microprocessors
关键词 嵌入式器件 测试技术 微处理器 大规模集成电路 计算机 embedded ,80C31,simply component 8 bit microcomputer,82C51,programmable communication interface
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