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用低噪声4200-SCS半导体特性分析系统进行超低电流测试
To Take Low noise 4200-SCS Semiconductor Anylizing System to Test Ultralow Circuit
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摘要
文章介绍用4200-SCS进行低电流测试的几个重要的影响因数,包括接地,屏蔽,测试中的噪声和系统稳定时间。
The articles says some key factors to test ultralow circuit, including grounding shielded noiseand system's time period.
作者
Keithley Inc
机构地区
吉时利公司
出处
《电子质量》
2003年第2期7-9,共3页
Electronics Quality
关键词
4200-SCS
超低电流测试
接地
屏蔽
噪声
半导体特性分析系统
Low noise
Semiconductor's specify anylizing system
Ultralow circuit test.
分类号
TN306 [电子电信—物理电子学]
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