用低噪声4200-SCS半导体特性分析系统进行超低电流测试

To Take Low noise 4200-SCS Semiconductor Anylizing System to Test Ultralow Circuit

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摘要文章介绍用4200-SCS进行低电流测试的几个重要的影响因数,包括接地,屏蔽,测试中的噪声和系统稳定时间。 The articles says some key factors to test ultralow circuit, including grounding shielded noiseand system's time period.

作者 Keithley Inc

机构地区吉时利公司

出处《电子质量》 2003年第2期7-9,共3页 Electronics Quality

关键词 4200-SCS 超低电流测试接地屏蔽噪声半导体特性分析系统 Low noise Semiconductor's specify anylizing system Ultralow circuit test.

分类号 TN306 [电子电信—物理电子学]

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