基于边界扫描技术的嵌入式处理器测试方法研究

The Test Method Research Based on Boundary-scan Technique for Embedded Microprocessor

现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。该文提出了嵌入式处理器80386EX芯片内部功能的测试方案,设计了符合JTAG规范的测试系统结构,实现了芯片的内部功能部件的测试。接着,通过实验证明了文章所提方法的可行性。最后讨论了下一步的研究工作。

This paper presents test method of inside functions for Intel80386microprocessor,and designs test system architecture based on boundary-scan technique,and implements inside function unit's test.The experiment's results testfy feasibility of this test method.