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中心波长为28.5nm多层膜镜反射率测量 被引量:2

The reflectivity measurement of the 28.5nm multilayer mirror
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摘要 在“星光 Ⅱ”装置上以类Ne铬x射线激光作为标定源 ,以平场光栅谱仪为分光元件进行了 2 8 5nm的Mo Si多层膜反射镜效率测量 .介绍了实验方法 ,给出了实验结果 ,本次研制的两块多层膜镜反射率分别为 3 1%和 9.6 % . The reflectivity of the 28.5nm Mo/Si multilayer mirrors are measured at Xingguang-II laser facility using a flat-field grating spectrograph with the Ne-like Cr x-ray laser as a soft x-ray source. The reflectivities obtained for two samples are 0.031 and 0.096.
出处 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第4期809-812,共4页 Acta Physica Sinica
基金 国家自然科学基金 (批准号 :199740 74和 60 180 0 7) 国家高技术研究发展计划资助的课题~~
关键词 X射线多层膜反射镜 反射率测量 X射线激光 实验研究 x-ray multilayer mirror Reflectivity measure x-ray laser
  • 相关文献

参考文献4

  • 1[1]Sterns D G et al 1993 Appl.Opt 32 6952
  • 2[2]Roberts J R et al 1990 Phys.Scripta 41 9
  • 3[4]Zhang J et al 1997 Science, 276 1097
  • 4[5]Nakayama S et al 1990 Phys.Scripta 41 754

同被引文献34

引证文献2

二级引证文献1

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