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电子束蒸发与磁控溅射镀铝的性能分析研究 被引量:14

Analysis and study on the capability of aluminium films prepared by electron beam vapour deposition and magnetron sputtering
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摘要 通过对半导体器件电极制备的两种方法即电子束蒸发与磁控溅射镀铝的比较,详细分析了两种方法的膜厚控制、附着力、致密性、电导率和折射率等重要性能指标,测试结果分析表明磁控溅射铝膜的综合性能优于电子束蒸发。 The paper compares two methods of pole preparation in semiconductor productions which are aluminium films prepared by electron beam vapour deposition and magnetron sputter deposition, and analyzes mainly the important capability data such as control of film thickness, adhesion force, conductance and refractive index and so on. The results indicate that the synthesis capability of magnetron sputtered aluminium films is superior to that of electron beam vapour deposition.
作者 陈荣发
出处 《真空》 CAS 北大核心 2003年第2期11-15,共5页 Vacuum
关键词 电子束蒸发 磁控溅射 铝膜 性能分析 electron beam vapour deposition magnetron sputtering aluminium films capability analysis
  • 相关文献

参考文献2

  • 1.半导体器件制造工艺[R].江苏省电子工业厅,1984.25~88.
  • 2王立衡 黄运添 郑海涛.薄膜技术[M].北京:清华大学出版社,1991.50~85.

同被引文献177

引证文献14

二级引证文献97

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