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基于边界扫描技术的VLSI芯片互连电路测试研究 被引量：5

Research of the VLSI Chips′Interconnection Circuit Test Based on Boundary Scan
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摘要 对VLSI芯片互连电路测试过程数学描述模型及测试原理进行了研究 ,在此基础上提出了一种基于边界扫描技术的VLSI芯片互连电路测试实现方案。以PC机为测试平台的测试实验结果表明 :该方案成功地完成了边界扫描机制试验电路板上互连电路的桥接、S -A -1型、S -A A mathematical description model of VLSI chips′ interconnection testing process and its test principle are studied, and then a design for VLSI chips′ interconnection circuit test based on boundary scan is brought forward .
作者 王隆刚 李桂祥 杨江平
机构地区 空军雷达学院研究生队 空军雷达学院雷达系统工程系
出处 《计算机测量与控制》 CSCD 2003年第4期247-249,253,共4页 Computer Measurement &Control
关键词 超大规模集成电路 VLSI 芯片互连 电路测试 边界扫描 boundary scan interconnection circuit test VLSI chip
分类号 TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献4

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共引文献28

同被引文献14

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引证文献5

二级引证文献19

计算机测量与控制
2003年 第4期

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