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(100)硅片的各向异性腐蚀及微反射镜的制作

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摘要 在(100)硅片上进行各向异性腐蚀时,能暴露垂直的{100}面、倾角为45°的{110}面和倾角54°的{111}面,{111}面是沿着<100>方向形成的,{100}和{110}面是沿着<100>方向形成的。用纯KOH水溶液和KOH+IPA(异丙醇)混合水溶液在(100)硅片上沿<100>方向腐蚀所暴露的平面是不同的,使用纯KOH水溶液总是能暴露与衬底垂直的{100}面,在使用KOH+IPA混合溶液时,当KOH的浓度较低的,暴露与裤底倾角是45℃的{110}面,当KOH溶度高于50%时,暴露出光滑且与衬底垂直的{100}面。根据这一结论,使用KOH浓度高于50%的KOH+IPA混合水溶液,在(100)硅片上沿着<100>方向制作出微反射镜,微镜的表面粗糙度低于100nm。
出处 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第0Z2期151-154,共4页 Acta Photonica Sinica
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