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质子和4He离子激发金和铋产生的LX射线的相对强度

Au and Bi L-X-ray relative intensities induced by protons and ~4He-ions
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摘要 利用ECPSSR电离理论和新获得的L次亮层荧光产额等,计算了质子和~4He离子激发Au和Bi所产生的LX射线相对强度。质子能量为0.18—10MeV,~4He离子能量为1.0—4.0MeV。计算结果和报道的实验测量符合得很好。没有发现L次壳层偶合效应。 Using the ECPSSR ionization theory and L-subshell fluorescence yields, the relative intensities of LX-rays induced by 0.18-10MeV protons impact on gold and 1.0-4.0 MeV 4He-ions impact on bismuth have been calculated. The results are in good agreement with experimental measurements reported. The L-subshell coupling effects are not found.
出处 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 1992年第2期92-97,共6页 Nuclear Techniques
基金 国家自然科学基金
关键词 PWBA理论 电离截面 LX射线 L次壳层 Ionization cross section L X-ray L-subshell fluorescence yield
  • 相关文献

参考文献4

  • 1徐君权,Phys Rev A,1991年,44卷,373页
  • 2徐君权,Phys Rev A,1991年,43卷,4771页
  • 3Chen M H,Phys Rev A,1982年,26卷,1243页
  • 4Chen M H,Phys Rev A,1981年,24卷,177页

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