PCS亚微米及纳米颗粒粒度测量仪的研制被引量：6

PCS Particle Sizing Instrument

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摘要介绍一种利用光子相关光谱技术进行亚微米及纳米颗粒粒度测量的PCS粒度仪的工作原理和设计 The development of PCS particle sizing instrment is introduced in this paper. The hardware of the instrument and the software outline are given.

作者申晋郑刚孙浩杨渝川

机构地区上海理工大学光学与电子信息工程学院上海理工大学电气学院上海海运学院机电系

出处《仪表技术》 2003年第2期7-8,共2页 Instrumentation Technology

基金上海市科技发展基金项目 0 2 2 2 610 3 0

关键词颗粒测量动态光散射光子相关光谱粒度仪研制纳米颗粒亚微米颗粒 particle measurement dynamic light scattering photon correlation spectroscopy

分类号 TH741 [机械工程—光学工程]

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相关文献

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