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高频红外碳硫仪快速测定金属硅中的碳和硫
被引量:
9
Rapid Determination of Carbon and Micro Sulfur in Silicon by High Frequency Infrared Carbon/Sulfur Detector
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摘要
应用 LECO CS-444红外碳硫仪 ,建立了金属硅中微量碳和硫的测定方法 ,对助熔剂的选择和用量、空白的控制和称样量等条件进行了探讨 ,在最佳条件下测定 。
作者
傅明
黄志强
杨万彪
胡宇东
机构地区
湖南出入境检验检疫局
出处
《分析科学学报》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第2期199-200,共2页
Journal of Analytical Science
关键词
高频红外碳硫仪
快速测定
金属硅
碳
硫
微量分析
分类号
TQ127.2 [化学工程—无机化工]
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