摘要
对数字电路实验所用到的集成电路的型号 ,功能检测及正确使用方法等问题进行了讨论 ,提出了一些具体措施 ,并就实验中出现的异常情况进行了分析。
In this paper,the author discuss the integrated circuit type,test of its function and correct method of use of integrated circuit,put forward some concrete measure,investigate the unusual condition arise in experiment.
出处
《湖北师范学院学报(自然科学版)》
2003年第1期80-83,共4页
Journal of Hubei Normal University(Natural Science)