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光学平行平板厚度的无损测量
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摘要
本文介绍了一种用麦克尔逊干涉原理对光学平行平板厚度进行无损测量的测量装置,详细阐述了其原理和测量步骤,零位的标定和精度的分析。有较强的实用性。
作者
黄钉劲
徐昌杰
机构地区
西安工业学院光电科学与工程系
出处
《测绘技术装备》
北大核心
2003年第1期36-37,共2页
Geomatics Technology and Equipment
关键词
麦克尔逊干涉原理
光学平行平板
无损测量
厚度
零位
精度
分类号
P258 [天文地球—测绘科学与技术]
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测绘技术装备
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