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(X,σ(X,Y))可度量化的充要条件

A NECESSARY AND SUFFICIENT CONDITION OF (X,σ(X,Y)) BEING METRIZABLE
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摘要 (x,y)是对偶空间,x按弱拓扑σ(X,Y)成局部凸空间,本文证明(X,σ(X,Y))可度量化的充要条件是Y的Hamel维至多可列. Let (X,Y) be pairing linear space,then (X,σ(.X,Y)) is a locally convex linear topological space. In this paper we prove that (X,σ(.X,Y)) is Metrizable if and only if the Hamel dimension of Y is finite or countable.
作者 王体福
出处 《湖南师范大学自然科学学报》 CAS 1992年第2期120-122,共3页 Journal of Natural Science of Hunan Normal University
关键词 对偶空间 弱拓扑 度量化 pairing space weak topology metrization
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参考文献1

  • 1俞鑫泰.Banach空间几何理论[M]华东师范大学出版社,1986.

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