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大规模集成电路对所用化学试剂和高纯水的要求 被引量:4

Requirements of VLSI for ultrapure water and chemicals
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摘要 介绍了大规模集成电路对所用化学试剂和高纯水的要求。如快扩散杂质、碱金属、细菌、二氧化硅、总有机碳及颗粒等。对高纯水和化学试剂中不同的杂质在集成电路中的影响进行了讨论,并给出了高纯水的国家标准和国外对256K 至4M DRAM 用水质量的规格。 The requirements of VLSI for quality of ultrapure water and chemicals including fast-diffusing impurities,alkali metals,bacteria,silica,TOC(total organic carbon)and particles,arediscussed.The effect of various impurities inultrapure water and chemicals on IC fabricationis also studied.The state standards for ultra-pure water and the specifications for 256K to 4MDRAM have been given.
作者 闻瑞梅
出处 《化学试剂》 CAS CSCD 北大核心 1992年第1期20-24,35,共6页 Chemical Reagents
  • 相关文献

参考文献1

  • 1闻瑞梅,朱章钰,董耀,崔惠国,佘爱武.大规模集成电路工艺中的高纯水[J]半导体技术,1983(01).

同被引文献23

引证文献4

二级引证文献25

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