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环形压敏电阻参数测试仪的研究 被引量:1

Study on Parameter Test Instrumentation of Voltage-dependent Resistor
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摘要 提出了一种新型的环形压敏电阻参数测试仪 ,详细介绍了它的整体结构 ,测量原理和硬件电路。试运行表明 ,该测试仪的检测精度较高 ,性能稳定 ,很好地解决了环形压敏电阻参数检测困难的技术问题。 This paper presents a new type of automatic parameter test instrumentation of voltage dependent resistor, and discusses its composition, measurement principle and hardware circuit. Practical opration shows that the instrumentation has high measurement accuracy and good performance.
作者 房德君
出处 《仪表技术》 2003年第3期27-28,共2页 Instrumentation Technology
关键词 环形压敏电阻 参数测试仪 结构 测量原理 硬件电路 检测精度 voltage dependent resistor test microcontroller
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参考文献1

  • 1I李华.MCS-51系列单片机实用接口技术[M].北京:北京航空航天大学出版社,1993..

引证文献1

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