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1064nm角立方反射镜的偏振特性分析 被引量：1

Analysis of polarization properties of 1064nm corner-cube retroreflectors
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摘要 利用TFCalc3.5薄膜设计软件设计出了对1064nm和500nm附近双波长高反射的理想膜系,并用琼斯算法对由1064nm高反射镜组成的角立方反射镜(外反射)的偏振特性进行了详细的分析与计算,得到了各种情况下角立方反射镜的本征值和本征向量,并分析得出了1064nm高反射镜的位相延迟δ=180°时,任意偏振状态的光经角立方反射镜后偏振状态保持不变。 The HR mirror in 1064nm and around 500nm was designed by use of TFCalc thin film design software, and the polarization properties of cornercube retroreflectors made of 1064nm HR mirror were analyzed. The Jones matrices and eigenpolarizations of the six propagation trips were derived, and the polarization state of any polarization light is unchanged through the cornercube retroreflectors when phase retarder of 1064nm HR mirror.
作者 李刚 高劲松 孙连春 刘万发
机构地区 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 大连化学物理研究所
出处 《光学技术》 CAS CSCD 2003年第3期372-373,376,共3页 Optical Technique
关键词 角立方反射镜 琼斯算法 本征向量 位相延迟 琼斯矩阵 偏振 phase retarder corner-cube retroreflectors Jones matrices eigenpolarizations
分类号 O436.3 [机械工程—光学工程]
  • 相关文献

参考文献4

  • 1Peck E R. Polarization properties of comer reflectors and cavities[J]. J. Opt. Soc. Am. ,1962, 52: 253--257.
  • 2Rabinovitch K. The application of thin films technique to compensate polarization effects on total internal reflection[J ]. SPIE, 1988,1308 : 337--348.
  • 3Player M A, Polarization properties of a cube-comer reflector[J ].Jounal of modern optics, 1988, 35: 1813--1820.
  • 4Liu J, Azzam R M A. Polarization properties of comer-cube retroreflectors: theory and experiment[J]. Applied Optics, 1997,36:1553--1559.

同被引文献19

  • 1沈学举.透镜偏振像差分析[J].应用光学,1996,17(3):6-9. 被引量：7
  • 2Inoué S, Hyde W L. Studies on depolarization of light at microscope lens surfaces[J]. J Biophys Biochem Cyto,1957,391-440.
  • 3Kubota H, Inoué S. Diffraction images in the polarizing microscope[J]. J Opt Soc Am,1959,49:191-198.
  • 4Clout P N, Heddle W O. Elimination of polarization corrections from optical excitation-function measurements[J]. J Opt Soc Am,1969,59:715-717.
  • 5Stewart J E, Gallaway W S. Diffraction anomalies in grating spectrometers[J]. Applied Optics,1962,1:421-429.
  • 6Brechenridge J B. Polarization properties of a grating spectrograph[J].Appl Opt, 1971,10:286-294.
  • 7Howell B J. Measurement of the polarization effects of an instrument using partially polarized light[J]. Appl Opt,1979,18:809-812.
  • 8Chipman R A.Polarization aberrations[M].University of Arizona,1987.
  • 9Chipman R A. Polarization analysis of optical systems[J]. Optical Engineering, 1989,28(2): 090-099.
  • 10Chipman R A. Polarization analysis of optical systems Ⅱ[J]. Proceedings of SPIE,1989,1166:79-94.

引证文献1

二级引证文献4

光学技术
2003年 第3期

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