摘要
本文介绍了大规模、超大规模集成电路LSI/VLSI测试系统诊断程序系统的主要思想,此系统在功能上采用了自动测试方式和人机交互测试.在方法上采用了两级控制的核扩充法.最后,给出系统实现时所遇到的问题及解决方法.
This paper introduces the testing and diagnosing method used in ATE, describes the problems in building this system, and gives the approaches to the solution of these problems in details. The structure of system realization is also advanced.
出处
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
1989年第1期55-59,共5页
Journal of Computer Research and Development